|
|
|
|
 |
Thiết bị siêu âm dò khuyết tật Epoch XT
Mã sản phẩm: Epoch XT
Thiết bị siêu âm khuyết tật cao cấp thế hệ mới nhất của hãng
Panametrics- NDT, thỏa mãn tiêu chuẩn Châu Âu EN-12668, cấp bảo vệ IP
67, màn hình LCD màu độ phân giải cao, có thể sử dụng với nhiều loại
pin, cổng USB để kết nối máy tính và máy in. DAC/TVG là các chương
trình tiêu chuẩn đi kèm.
Xuất xứ: USA
Bảo hành: 24 tháng
Hàng có tại:
[Hà Nội & TP HCM]
[Hà Nội & TP HCM]
Khuyến mại:
|
 |
| |
 |
|
 |
Thiết bị siêu âm dò tìm khuyết tật thế hệ mới nhất của hãng
Panametrics-NDT, được thiết kế sử dụng linh hoạt cho rất nhiều ứng dụng
kiểm tra, kể cả trong các môi trường khắc nghiệt nhất. Thiết bị kết hợp
nhiều tính năng cao trong dò tìm khuyết tật và đo chiều dày, màn hình
sáng đa màu sắc LCD, có thể sử dụng với nhiều loại pin, công cụ quản lý
dữ liệu rất mạnh, các phần mềm có nhiều tính năng, tất cả được đặt
trong thiết bị có vỏ chắc chắn, thỏa mãn yêu cầu của chuẩn EN 12668-1
và cấp bảo vệ IP67.
- Phù hợp với chuẩn EN 12668-1
- Được kiểm tra trong môi trường dễ cháy nổ, rung động và va đập
- Vỏ kín và chắc chắn chống lại được các điều kiện khắc nghiệt, thoả mãn chuẩn IP 67
- Phần mềm tiêu chuẩn DAC/TVG
- Các đường DAC
- Các mức cảnh báo do người sử dụng đặt ra
- Đạt các yêu cầu của chuẩn JIS, ASME
- Bảng TVG cho phép người sử dụng tự cài đặt TVG
- Có thể sử dụng với nhiều loại pin tuỳ chọn như: Lithium-Ion, NiMH, hoặc pin cỡ C
- Cổng USB cho phép in trực tiếp ra các máy in và lưu dữ liệu trực tiếp vào USB mà không cần qua máy tính
- Cổng USB Client dùng cho kết nối với PC
- Được cài đặt các tính năng đo
- "PerfectSquare™ Technology": Xung được
điều khiển điện tử trên cả hai sườn để hiệu suất của đầu dò và độ phân
giải gần bề mặt được cao nhất.
- Có thể điều chỉnh tần số xung lặp lại PRF từ 10 Hz tới 1 kHz
- Bộ ghi dữ liệu tính năng cao
- Các kiểu file đo chiều dày ăn mòn có thể được cài đặt bên trong thiết bị
- Dễ dàng lưu thêm các bộ dữ liệu mới
- Hiển thị bằng màn hình LCD màu độ phân giải cao
- Nhẹ, 4.7 lbs (2.1 kg)
|
|
Đang tải dữ liệu ...
